<strong>简介</strong>
在许多基于单片机的应用中，单片机都受到各类电磁噪声的影响。电气噪声可能导致应用出现异常行为。其中的两种噪声事件分别称为静电放电（Electrostatic Discharge，ESD）和电过载（Electrical Overstress，EOS）。本应用笔记讨论了这两种事件、导致这些事件的原因以及如何最大程度降低它们对应用的影响。
<span class="download"><a href="http://mouser.eetrend.com/files/2017-09/wen_zhang_/100007954-26251-0000…;